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APOGEE 130

APOGEE 130

这是一款微聚焦X射线检测设备 ,主要应用于BGA/CSP、插入元件 、SOP/QFP、三极管 、CHIP元件、底部电极元件、QFN、功率模块的检测,检测缺焊、未浸润、焊锡量、偏移、异物、桥接、引脚有无等(根据检查对象不同作不同选择),VJ自主研发的检测软件,可以对各种电子元器件进行图像处理,分析,自动计算缺陷。

  • 产品特征

  • 技术参数

  • 应用领域

1. 光管电压130kv,5微米焦斑,封闭式X射线管
2. 高清数字平板探测器,成像快,图像效果佳。
3. 配备7轴运到控制系统,斜角检测高达60° ,实现全方位检测。
4. 最大检测区域400 x 400mm
5. 可编程检测序列,自动识别不良产品。


技术            X-ray光源                 密闭的,微校对                                                            
功率/电压/电流40W/130kV/0.300mA  
最小光斑尺寸                 5µm
检测器                     5" FPD       灰度阶值: 16位 (65,536阴影) 2.36 MP                   )
像素间距                85µm
视野73mm x 73mm (2.875”x2.875”)
成像速度                      10 FPS/Location
X-ray 铅房/安全               <0.1Mr/hr (1.0 Usv/hr     IEC, CE, & FDA




该型号现广泛应用于电子行业

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