这是一款微聚焦X射线检测设备 ,主要应用于BGA/CSP、插入元件 、SOP/QFP、三极管 、CHIP元件、底部电极元件、QFN、功率模块的检测,检测缺焊、未浸润、焊锡量、偏移、异物、桥接、引脚有无等(根据检查对象不同作不同选择),VJ自主研发的检测软件,可以对各种电子元器件进行图像处理,分析,自动计算缺陷。
1. 光管电压130kv,5微米焦斑,封闭式X射线管 |
2. 高清数字平板探测器,成像快,图像效果佳。 |
3. 配备7轴运到控制系统,斜角检测高达60° ,实现全方位检测。 |
4. 最大检测区域400 x 400mm |
5. 可编程检测序列,自动识别不良产品。 |
技术 | X-ray光源 | 密闭的,微校对 |
功率/电压/电流 | 40W/130kV/0.300mA | |
最小光斑尺寸 | 5µm | |
检测器 | 5" FPD 灰度阶值: 16位 (65,536阴影) 2.36 MP ) | |
像素间距 | 85µm | |
视野 | 73mm x 73mm (2.875”x2.875”) | |
成像速度 | 10 FPS/Location | |
X-ray 铅房/安全 | <0.1Mr/hr (1.0 Usv/hr IEC, CE, & FDA |
该型号现广泛应用于电子行业